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牛津儀器Jupiter XR AFM并非僅用于觀察形貌的傳統設備，它是一款集卓越穩定性、卓越分辨率與卓越多功能性于一體的全功能型科研級AFM。其核心優勢在于：

• 卓越穩定性，獲取真實數據：采用主動隔振與聲學屏蔽技術，確保在常規實驗室環境下也能獲得原子級分辨率的穩定數據，有效隔離環境干擾，保障測量的真實性與可重復性。

• 卓越分辨率，洞察原子尺度：憑借優化的控制系統與高性能探針，可輕松獲得原子/分子級分辨率的圖像，清晰呈現表面臺階、原子排列、高分子鏈結構等。

• 卓越多功能性，一站式性能分析：集成多種先進測量模式，可在一次測量中同步獲得樣品表面的形貌、力學模量、電勢、磁疇、摩擦力和表面電勢等多重物理性質圖譜。

• 卓越易用性，提升科研效率：擁有大樣品臺、全自動激光與探測器對準以及直觀的軟件界面，極大降低了高端AFM的操作門檻，讓您能更專注于科學發現本身。

依托Jupiter XR AFM的強大多功能平臺，我們提供全面、定量的納米尺度表面性能分析服務：

1. 超高分辨率三維形貌分析

• 提供樣品表面在納米乃至原子尺度的真實三維形貌圖，并可進行粗糙度、臺階高度、顆粒粒徑等精確的定量統計分析。

2. 納米力學性能Mapping

• 通過接觸共振模式 等先進技術，定量測量并繪制樣品表面的楊氏模量、粘附力、耗散 等力學性質分布圖，廣泛應用于復合材料、生物材料和高分子薄膜的表征。

3. 納米電學性能Mapping

• 使用開爾文探針力顯微鏡 測量表面電勢 與功函數，使用導電原子力顯微鏡 測量微區電流 與電阻，是研究半導體器件、太陽能電池、導電材料的強大工具。

4. 納米磁學性能Mapping

• 利用磁力顯微鏡 模式，無損觀測樣品表面的磁疇結構 與磁疇壁，適用于磁性薄膜、存儲材料的研究。

5. 表面摩擦與化學性質Mapping

• 通過橫向力顯微鏡，研究材料表面的摩擦系數 分布和親疏水性差異，可用于表面改性效果評估和多相材料分析。

我們的服務在功能材料與器件的研發中扮演著至關重要的角色：

• 半導體與電子器件：測量晶體管結構的表面電勢、分析載流子濃度分布、定位漏電點位，進行失效分析。

• 新能源材料：Mapping太陽能電池材料的功函數與光電響應，分析鋰電池電極材料的模量分布與導電性。

• 高分子與復合材料：可視化共混高分子中不同組分的納米力學性能（模量、粘彈性）分布，研究界面效應。

• 生命科學與生物材料：在近生理環境下測量生物分子（如蛋白質、DNA）的形貌，以及細胞、生物支架的納米力學性質（如剛度）。

• 數據存儲與磁性材料：觀察新型磁性薄膜的磁疇形態，分析其穩定性與讀寫性能。