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瀚微科技
Jiangsu Hanwei Science and Technology Co., Ltd
  • 橢圓偏振光譜

  • 橢圓偏振光譜

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商品描述

服務內容：

  • 精準厚度測量： 精確測量各類單一及多層復合薄膜的厚度，分辨率可達亞納米級。

  • 光學常數解析： 專業測定薄膜材料在不同波長下的折射率（n）與消光系數（k），繪制完整色散曲線。

  • 材料結構與質量評估： 基于光學模型，分析材料的結晶性、各向異性、表面粗糙度及組分信息。

技術優勢：

  • 高精度保證： 業界領先的測量重復性，確保數據真實可靠。

  • 無損檢測： 全程不接觸、不損傷樣品，尤其適用于珍貴或正在工藝中的樣品。

  • 寬光譜范圍： 覆蓋深紫外至近紅外，全面洞察材料的光學行為。

  • 快速高效： 配備先進分析軟件，提供快速、專業的測試與數據分析服務。

典型應用客戶：

  • 半導體芯片制造與研發

  • 光學鍍膜與元器件研發

  • 平板顯示與觸控面板行業

  • 新型材料（石墨烯、光伏薄膜等）研發機構